Päikesepatarei tootjad on ametlikult alustanud uue M10 (182 mm x 182 mm p-tüüpi monokristalliline) suurte vahvlite suuruse standardi loomist, et vähendada tootmiskulusid kogu seotud päikesetööstuse tarneahelas, kuna suurte pindade vahvel on suur viimastel aastatel.
1. Materjali omadused
Kinnisvara | Spetsifikatsioon | Kontrollimeetod |
Kasvumeetod | CZ | -- |
Kristallilisus | Monokristalne räni | Söövitamise eelismeetodid（ASTM F47-88） |
Juhtivuse tüüp | P-tüüp | Napson EC-80TPN P / N testija |
Dopant | Boor / gallium | -- |
Hapniku kontsentratsioon [Oi] | ≤9E + 17 at / cm3 | FTIR (ASTM F121-83) |
Süsiniku kontsentratsioon [Cs] | ≤ 4E + 16 juures / cm3 | FTIR（ASTM F123-91） |
Söövituskivi tihedus (dislokatsiooni tihedus) | ≤ 500 cm-2 | Söövitamise eelismeetodid（ASTM F47-88） |
Pinna orientatsioon | & 100> ± 3 ° | Röntgendifraktsiooni meetod（ASTM F26-1987） |
Pseudoruudukülgede orientatsioon | & 010> ;,&001> ± 3 ° | Röntgendifraktsiooni meetod（ASTM F26-1987） |
2. Elektrilised omadused
Kinnisvara | Spetsifikatsioon | Kontrollimeetod |
Resistentsus | 0,4-1,5 Ω.cm | vahvlite kontrollimise süsteem |
MCLT (Vähemusettevõtte eluiga) | ≥50µs | Sinton BCT-400 QSSPC / mööduv (sissepritse tasemega: 1E15 cm-3) |
3. Geomeetria
Kinnisvara | Spetsifikatsioon | Kontrollimeetod |
Geomeetria | pseudo väljak | -- |
Kaldus serva kuju | Ümmargune | -- |
Vahvel Külje pikkus | 182±0,25 mm | vahvlite kontrollimise süsteem |
Vahvli läbimõõt | φ247±0,25 mm | vahvlite kontrollimise süsteem |
Nurk külgnevate külgede vahel | 90° ± 0.2° | vahvlite kontrollimise süsteem |
Paksus | 180﹢ 20/﹣10 µm 175﹢ 20/﹣10 µm 170﹢ 20/﹣10 µm 160﹢ 20/﹣10 µm 150﹢ 20/﹣10 µm Muu | vahvlite kontrollimise süsteem |
TTV (kogu paksuse kõikumine) | ≤ 28µm | vahvlite kontrollimise süsteem |
4. Pinna omadused
Kinnisvara | Spetsifikatsioon | Kontrollimeetod |
Lõikemeetod | Teemanttraag | -- |
Pinna kvaliteet | lõigatud ja puhastatud, pole nähtavat saastumist (õli või rasv, sõrmejäljed, täppiplekid, epoksü- / liimijäägid pole lubatud) | vahvlite kontrollimise süsteem |
Saemärgid | ≤ 15µm | vahvlite kontrollimise süsteem |
Kummardus | ≤ 40 µm | vahvlite kontrollimise süsteem |
Lõime | ≤ 40 µm | vahvlite kontrollimise süsteem |
Kiip | sügavus ≤0,3mm ja pikkus ≤ 0,5mm Max 2 / tk; puudub V-kiip | Paljaste silmade või vahvlite kontrollisüsteem |
Mikropraod / -augud | Ei ole lubatud | vahvlite kontrollimise süsteem |
