Praegu kasutab silicon solar PV peamiselt 156,75mm x 156,75mm P-tüüpi monokristalseid plaate, kuid mõned neist rändavad suurematesse plaatidesse ja rakkude suurustesse nagu 158,75mm x 158,75mm. Mõned tootjad on seda protsessi juba alustanud. Üks põhjus, miks 158,75mm ruudukujuline vahvel saab rohkem tähelepanu, on see, et lähedased mooduli mõõtmed on varasemad standardsed 60-rakulised ja72-rakulised moodulid, mis tagavad olemasolevate tootmisseadmete moderniseerimise ja säilitamise.
Tulevikus saab mono-Si plaatide puhul 158,75mm täisruut enamiku fotogalvaaniliselt saadud päikeseenergia tootjate kõige enam kasutusele võetud disainiks. Loomulikult kasutavad mõned tootjad plaate, mis on sellest suuremad. LG ja Hanwha Q Cells kasutavad näiteks M4 plaate (161,7mm), Longi aga 166mm(M6) vahvleid.
1 Materjali omadused
vara | Spetsifikatsioon | Inspekteerimismeetod |
Kasvumeetod | Cz | |
Kristallilisus | Monokristalne
| Soodusetchi tehnikad（ASTM F47-88） |
Juhtivuse tüüp | P-tüüp | Napson EC-80TPN P/N |
Dopant
| Boor, Gallium
| - |
Hapniku kontsentratsioon[Oi] | ≦8E+17 at/cm3 | FTIR (ASTM F121-83) |
Süsiniku kontsentratsioon[Cs] | ≦5E+16 at/cm3 | FTIR (ASTM F123-91) |
Etch augu tihedus(dislokatsiooni tihedus) | ≦500 cm-3 | Soodusetchi tehnikad（ASTM F47-88） |
Pinna orientatsioon | <100>±3° | Röntgendifraktsiooni meetod (ASTM F26-1987) |
Pseudoruuduliste külgede orientatsioon | <010>,<001>±3° | Röntgendifraktsiooni meetod (ASTM F26-1987) |
2 Elektrilised omadused
vara | Spetsifikatsioon | Inspekteerimismeetod |
Vastupanu | 0,5-1,5 Ωcm | Vahvlikontrollisüsteem |
MCLT (vähemuskandja eluiga) | ≧50 μs | Sinton BCT-400 (süstimistasemega: 1E15 Cm-3) |
3 geomeetria
vara | Spetsifikatsioon | Inspekteerimismeetod |
geomeetria | Täisruut | |
Vahvli külje pikkus | 158.75±0.25 mm | plaatide kontrollimise süsteem |
Vahvli läbimõõt | φ223±0,25 mm | plaatide kontrollimise süsteem |
Nurk külgnevate külgede vahel | 90° ± 0,2° | plaatide kontrollimise süsteem |
Paksus | 180﹢20/﹣10 μm; 170﹢20/﹣10 μm | plaatide kontrollimise süsteem |
TTV (kogupaksuse variatsioon) | ≤27 μm | plaatide kontrollimise süsteem |
4 Pinna omadused
vara | Spetsifikatsioon | Inspekteerimismeetod |
Lõikamismeetod | Dw | -- |
Pinna kvaliteet | lõikamise ja puhastamisena ei ole nähtav saastumine (õli või rasv, sõrmejäljed, seebiplekid, lägaplekid, epoksü-/liimiplekid ei ole lubatud) | plaatide kontrollimise süsteem |
Saemärgid / astmed | ≤ 15μm | plaatide kontrollimise süsteem |
vibu | ≤ 40 μm | plaatide kontrollimise süsteem |
Sulatada | ≤ 40 μm | plaatide kontrollimise süsteem |
Chip | sügavus ≤0,3mm ja pikkus ≤ 0,5mm Max 2/tk; V-kiip puudub | Paljad silmad või vahvlikontrollisüsteem |
Mikropraod / augud | Pole lubatud | plaatide kontrollimise süsteem |
Kuum tags: p tüüp 158.75mm monokristalne päikesevahvel, Hiina, tarnijad, tootjad, tehas, valmistatud Hiinas
