Fotogalvaaniliselt saadud päikeseenergia tööstuses tuleb plaatide tehnoloogia üleminek pseudoväljakult156.75x156.75mm M2 suurematele plaatide mõõtudele täisruudu 158,75x158,75mm ja see hõlmab p-tüüpi ja n-tüüpi mono-Si vahvleid.
Tipptasemel Full Square Mono vahvlid on maksimeerinud valguse kokkupuudet multivahvli sama tasemega, laiendades ruudukujulist mõõtu. Plaadid on alati täielikult ruudukujulised, nii et need sobivad fotoelektrilise mooduliga optimaalselt.
1 Materjali omadused
vara | Spetsifikatsioon | Inspekteerimismeetod |
Kasvumeetod | Cz | |
Kristallilisus | Monokristalne | Soodusetchi tehnikad（ASTM F47-88） |
Juhtivuse tüüp | N-tüüp | Napson EC-80TPN |
Dopant | fosfor | - |
Hapniku kontsentratsioon[Oi] | ≦8E+17 at/cm3 | FTIR (ASTM F121-83) |
Süsiniku kontsentratsioon[Cs] | ≦5E+16 at/cm3 | FTIR (ASTM F123-91) |
Etch augu tihedus(dislokatsiooni tihedus) | ≦500 cm-3 | Soodusetchi tehnikad（ASTM F47-88） |
Pinna orientatsioon | <100>±3° | Röntgendifraktsiooni meetod (ASTM F26-1987) |
Pseudoruuduliste külgede orientatsioon | <010>,<001>±3° | Röntgendifraktsiooni meetod (ASTM F26-1987) |
2 Elektrilised omadused
vara | Spetsifikatsioon | Inspekteerimismeetod |
Vastupanu | 0,3-2,1 Ω,cm 1,0-7,0 Ω,cm | Vahvlikontrollisüsteem |
MCLT (vähemuskandja eluiga) | ≧1000 μs(Resistivity 0,3-2,1 Ω.cm) | Sintoni mööduv |
3 geomeetria
vara | Spetsifikatsioon | Inspekteerimismeetod |
geomeetria | Täisruut | |
Vahvli külje pikkus | 158.75±0.25 mm | plaatide kontrollimise süsteem |
Vahvli läbimõõt | φ223±0,25 mm | plaatide kontrollimise süsteem |
Nurk külgnevate külgede vahel | 90° ± 0,2° | plaatide kontrollimise süsteem |
Paksus | 180﹢20/﹣10 μm; 170﹢20/﹣10 μm | plaatide kontrollimise süsteem |
TTV (kogupaksuse variatsioon) | ≤27 μm | plaatide kontrollimise süsteem |
4 Pinna omadused
vara | Spetsifikatsioon | Inspekteerimismeetod |
Lõikamismeetod | Dw | -- |
Pinna kvaliteet | lõikamise ja puhastamisena ei ole nähtav saastumine (õli või rasv, sõrmejäljed, seebiplekid, lägaplekid, epoksü-/liimiplekid ei ole lubatud) | plaatide kontrollimise süsteem |
Saemärgid / astmed | ≤ 15μm | plaatide kontrollimise süsteem |
vibu | ≤ 40 μm | plaatide kontrollimise süsteem |
Sulatada | ≤ 40 μm | plaatide kontrollimise süsteem |
Chip | sügavus ≤0,3mm ja pikkus ≤ 0,5mm Max 2/tk; V-kiip puudub | Paljad silmad või vahvlikontrollisüsteem |
Mikropraod / augud | Pole lubatud | plaatide kontrollimise süsteem |
Kuum tags: n tüüp täisruuduline monokristalne päikesevahvel, Hiina, tarnijad, tootjad, tehas, valmistatud Hiinas
