P tüüp 166mm monokristalliline päikeseplaat

Kasvumeetod

CZ

Kristallilisus

Monokristalliline

Söövitamise eelismeetodid（ASTM F47-88）

Juhtivuse tüüp

P-tüüp

Napson EC-80TPN

P/N

Dopant

Boor, gallium

-

Hapniku kontsentratsioon [Oi]

≦8E+17 at / cm³

FTIR (ASTM F121-83)

Süsiniku kontsentratsioon [Cs]

≦5E+16 at / cm³

FTIR (ASTM F123-91)

Söövituskivi tihedus (dislokatsiooni tihedus)

≦500 cm^-3

Söövitamise eelismeetodid（ASTM F47-88）

Pinna orientatsioon

& 100> ± 3 °

Röntgendifraktsioonimeetod (ASTM F26-1987)

Pseudoruudukülgede orientatsioon

& 010> ;,&001> ± 3 °

Röntgendifraktsioonimeetod (ASTM F26-1987)

Resistentsus

0,5-1,5 Ωcm

Vahvlite kontrollisüsteem

MCLT (vähemuse operaatori eluiga)

≧50 μs

Sinton BCT-400

(sissepritse tasemega: 1E15 cm^-3)

Geomeetria

Täis ruut

Vahvel Külje pikkus

166 ± 0,25 mm

vahvlite kontrollimise süsteem

Vahvli läbimõõt

~ 223 ± 0,25 mm

vahvlite kontrollimise süsteem

Nurk külgnevate külgede vahel

90° ± 0.2°

vahvlite kontrollimise süsteem

Paksus

180﹢20/﹣10 µm;

170﹢20/﹣10 µm

TTV (kogu paksuse kõikumine)

≤27 µm

vahvlite kontrollimise süsteem

Lõikemeetod

DW

--

Pinna kvaliteet

lõigatud ja puhastatud, pole nähtavat saastumist (õli- või määrdeained, sõrmejäljed, seebiplekid, lägaplekid, epoksü- või liimiplekid pole lubatud)

vahvlite kontrollimise süsteem

Saemärgid / astmed

≤ 15µm

vahvlite kontrollimise süsteem

Kummardus

≤ 40 µm

vahvlite kontrollimise süsteem

Lõime

≤ 40 µm

vahvlite kontrollimise süsteem

Kiip

sügavus ≤0,3mm ja pikkus ≤ 0,5mm Max 2 / tk; puudub V-kiip

Paljaste silmade või vahvlite kontrollisüsteem

Mikropraod / -augud

Ei ole lubatud

vahvlite kontrollimise süsteem